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DSA8300 是一款等效時間取樣示波器，為通信信號分析、串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析以及串行數(shù)據(jù)鏈路分析應(yīng)用提供保真測量和分析功能。
關(guān)鍵性能指標(biāo)
- 超低時基抖動：
- 在同時采集的最多 8 條通道上，典型值為 425 fs
- 使用 82A04B 相位參考模塊時，在最多 6 條通道上 <100 fs
- 垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器
- 電接口分辨率： <20 μV LSB（適用于 1 V 全量程）
- 光接口分辨率從 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
- >80 GHz 的光接口帶寬
- 電接口帶寬 >70 GHz
- 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能
- 80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板，自動進(jìn)行模板測試
主要功能
- 通過當(dāng)前取樣模塊系列，DSA8300 支持同時采集最多 8 個信號
- 多種光接口、電接口和附件模塊，滿足您的特定測試要求
- 光接口模塊
- 全面集成光接口模塊，支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有標(biāo)準(zhǔn)光接口數(shù)據(jù)速率
- 經(jīng)過認(rèn)證的光接口參考接收機，支持標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定必須進(jìn)行的一致性測試指定的要求
- >80 GHz 的光接口帶寬
- 光接口取樣模塊提供了高光學(xué)靈敏度、低噪聲及寬動態(tài)范圍，可以準(zhǔn)確地測試和檢定短程到遠(yuǎn)程光接口通信標(biāo)準(zhǔn)
- 經(jīng)過全面校準(zhǔn)的時鐘恢復(fù)解決方案 – 不需要手動校準(zhǔn)數(shù)據(jù)撿拾損耗
- 經(jīng)過校準(zhǔn)的消光比測量，在采用這一出廠校準(zhǔn)選項模塊時，系統(tǒng)間消光比測量可靠性 <0.5 dB
- 電接口模塊
- 超低噪聲電接口取樣器（20 Ghz 時為 280 μV，60 Ghz 時為 450 μV，典型值）
- 可以選擇帶寬1允許用戶用取樣器帶寬和噪聲換取最優(yōu)的數(shù)據(jù)采集性能
- 遠(yuǎn)程取樣器2或緊湊的取樣擴展模塊電纜，取樣器可以放在被測器件附近，使信號劣化達(dá)到最小
- 世界上性能最高的集成 TDR（10 ps 典型階躍上升時間），高效檢定阻抗不連續(xù)點，高動態(tài)范圍，執(zhí)行高達(dá) 50 Ghz 的 S 參數(shù)測量
- 分析
- 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了一套完整的超過 120 種自動測量功能
- 80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板，自動進(jìn)行模板測試。 新模板可以導(dǎo)入到 DSA8300 中，支持新出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)。 此外，用戶可以為自動模板測試定義自己的模板
- 垂直直方圖和水平直方圖，對波形進(jìn)行統(tǒng)計分析
- 垂直光標(biāo)、水平光標(biāo)和波形光標(biāo)(帶測量數(shù)據(jù))
- 通過 80SJNB 基本和高級應(yīng)用軟件選項提供抖動、噪聲、BER 和串行數(shù)據(jù)鏈路分析
- 通過 IConnect® 應(yīng)用軟件選項提供高級 TDR 分析、S 參數(shù)測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能
- 高測試吞吐量
- 每條通道高達(dá) 300 kS/s 的取樣采集速率
- 高效編程接口（IEEE-488、以太網(wǎng)或本地處理器接入）實現(xiàn)高測試吞吐量
1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模塊。
2 僅適用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。
應(yīng)用
- 設(shè)計/檢驗電信和數(shù)據(jù)通信器件和系統(tǒng)
- ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/一致性測試
- 高性能真正差分 TDR 測量
- 串行數(shù)據(jù)應(yīng)用阻抗檢定和網(wǎng)絡(luò)分析，包括 S 參數(shù)
- 高級抖動、噪聲和 BER 分析
- 通道和眼圖仿真及基于測量的 SPICE 模型
杰出的性能，優(yōu)異的通用性
DSA8300 數(shù)字串行分析儀為開發(fā)和測試采用幾千兆位數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)的通信、計算機和消費電子提供了用途廣泛的工具。 它可以用來對這些產(chǎn)品中使用的器件、模塊和系統(tǒng)的光接口和電接口發(fā)射機進(jìn)行檢定及一致性測試檢驗。
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