- 測量頻率1MHz~300MHz
- 測量時間：最快0.5ms
- 基本精度±0.72%rdg.
- 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580專用的測試治具。
基本參數(shù)
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測量模式 |
LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續(xù)測量 |
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測量參數(shù) |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
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精度保證范圍 |
100 mΩ~5 kΩ |
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顯示范圍 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
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基本精度 |
Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
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測量頻率 |
1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進) |
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測量信號電平 |
功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
電流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms |
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輸出阻抗 |
50 Ω (10 MHz時) |
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顯示 |
彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
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測量時間 |
最快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值 |
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功能 |
接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關(guān)補償 |
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接口 |
EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN
RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
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電源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
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體積和重量 |
主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
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附件 |
電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1 | |
